제품 정보

  • 제품 정보
  • 열전냉각
  • 반도체 검사 장비
  • D-Ram, NFM 검사장비

반도체 검사 장비

[수출용]

[내수용]

그간 DDR2, DDR3의 각종 온도시험을 수행했던 chamber방식의 단점을 개선한 장비로서 최근 DDR4의 검사까지 가능한 장비입니다. 빠른 Test time(20℃ → 60℃, 120초 이내), 생상량 증가, 최소의 유지경비, 뛰어난 생산성을 기반으로 국내의 반도체 업계에 공급되어 기존의 챔버방식과는 차별화된 여러가지 장점(생산성, 유지비, 가격)을 가지고 필드에서 호평을 받는 장비입니다. DDR2, DDR3까지 다양하게 test 할 수 있는 장비로서 공정의 단순화와 고생산성을 이룰 수 있습니다.

제품의 사양(SPEC)
품명 MTC-2000A
제품의 용동 DRAM, NANO, FLASH, MEMORY의 온도 테스트
일반사항 사용 주위 온도 22℃
사용 주위 습도 40~ 80%
인입전력 AC 220V
가열 냉각 방법 HEATER & TEC가열, TEC냉각
가열 냉각 대상 DDR2, DDR3, DDR4 및 낸드플래시메모리
기기성능 온도범위 냉각 시 20℃
가열 시 90℃
냉각능력 최대 100 Watt/sec
가열능력 최대 720 Watt/set
도달속도 가동 후 120초 이내
기타사항 제품크기 2100 × 1520 × 800mm
제품중량 200kg
안전장치 3중 안전 장치