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열전냉각

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반도체 검사 장비

[SSD tester]

SSD의 각종 온도시험을 수행했던 chamber방식의 단점을 개선한 장비로서, 빠른 Test time(20℃ → 60℃, 120초 이내), 생산량 증가, 최소의 유지경비, 뛰어난 생산성을 기반으로 국내 반도체 업계에 공급되어 호평을 받는 장비입니다.

제품의 사양(SPEC)
품명 MTC-1000A
제품의 용동 DRAM, NANO FLASH MEMORY의 온도 테스트
일반사항 설치장소 실내용
사용 주위 온도 22℃
사용 주위 습도 40~ 80%
인입전력 AC 220V
가열 냉각 방법 HEATER & TEC가열, TEC냉각
가열 냉각 대상 SSD
기기성능 온도범위 냉각 시 20℃
가열 시 90℃
냉각능력 최대 100 Watt/sec
가열능력 최대 720 Watt/set
도달속도 가동 후 120초 이내
기타사항 제품크기 2100 × 1520 × 800mm
제품중량 200kg
안전장치 3중 안전 장치